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鋁合金加工產品的剝落腐蝕試驗方法GB/T22639-2008
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金屬和合金的腐蝕腐蝕疲勞試驗第1部分：循環失效試驗GB/T20120.1-2006
北京
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金屬和合金的腐蝕應力腐蝕試驗第4部分：單軸加載拉伸試樣的制備和應用GB/T15970.4-2000
北京
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銅氫脆試驗ENISO2626
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外科植入物用不銹鋼GB/T4234-2003,金屬顯微組織檢驗方法GB/T 13298－1991
北京
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外科植入物用不銹鋼GB4234-2003
北京
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金屬和合金的腐蝕 不銹鋼晶間腐蝕試驗方法GB/T4334-2008
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剛玉磨料中α-Al2O3相X射線定量測定方法GB/T14321-2008
北京
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硅片彎曲度測試方法GB/T6619-2009
北京
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硅單晶電阻率測定方法GB/T1551-2009,半導體硅片電阻率及硅薄膜層電阻測定非接觸渦流法GB/T6616-2009,硅片徑向電阻率變化測量方法GB/T11073-2007,硅晶體中間隙氧含量紅外吸收測量方法GB/T1557...
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用紅外吸收法測量硅中間隙氧含量的標準方法SEMIMF1188-1107,硅晶體中間隙氧含量徑向變化測量方法GB/T14144-2009,硅片中間隙氧含量徑向變化的標準測試方法SEMIMF951-0305,硅中代（替）位碳...
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非本征半導體中少數載流子擴散長度的穩態表面光電壓測試方法YS/T679-2008,用穩態表面光電壓法測量硅中少數載流子擴散長度的標準方法SEMIMF391-0708,硅片載流子復合壽命的無接觸微波反射光電導...
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硅拋光片表面質量目測檢驗方法GB/T6624-2009,硅拋光片表面顆粒測試方法GB/T19921-2005
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硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法GB/T24578-2009,代替使用全反射X光熒光光譜測量硅片沾污的測試方法SEMIMF1526-1103
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硅拋光片氧化誘生缺陷的檢測方法GB/T4058-2009
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硅片直徑測量方法GB/T14140-2009
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國家有色金屬及電子材料分析測試中心引進了美國ThermoFisher公司最新型號的ElementGD輝光放電質譜儀(GDMS)，適用于金屬中ppb級及其以上含量的雜質分析，可以檢測5N、6N高純鋁、銅、鋅、...
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國家有色金屬及電子材料分析測試中心從20世紀五十年代起開展稀土分析方法研究，是國內稀土檢測的權威機構，同時是國家稀土標準分析方法的主要起草單位。中心面向社會提供稀土檢測服務，可...
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國家有色金屬及電子材料分析測試中心，是貴金屬檢測的專業機構，可以根據國家標準的要求，化驗各種貴金屬，確定貴金屬的純度，為貴金屬交易買賣提供保障。檢測項目如下：貴金屬檢測項...
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