涂層測厚儀|孔銅厚度測量儀|面銅厚度測厚儀|鍍層測厚儀
涂層測厚儀CMI700(鍍層測厚儀)用途：
    用于磁性基材上的非磁性鍍層、導性基材上的非導性鍍層、磁性基材上的電鍍層。
涂層測厚儀CMI700(鍍層測厚儀)特征：
1、可利用掃描方法來測量不均勻的基材，這可提高得率和再現率。
2、大型液晶，高對比度顯示器，可以從較遠的距離可以及各個角度觀察到屏幕顯示的內容。
3、菜單操作界面以及軟鑰
4、統計結果及統計圖可被顯示或被打印。
5、可存放8000字節，永久存儲。
6、英寸或微米的單位選擇。
7、人體工學化設計。
8、有各種測試探頭可供選擇。
涂層測厚儀CMI700(鍍層測厚儀)技術參數：
探頭類型          應用范圍             測量范圍          測量精度
ETP                孔銅厚度測量儀            2.036～101.6μm        ±5%
SRP-4             面銅厚度測厚儀            0.762～245μm            ±3%
TRP-4           微孔孔銅厚度測量儀        2.036～101.6μm        ±5%
ECP（ECP-M） 非導電膜（綠油）厚度測量   0～1016μm            ±5%