元素分析儀|X熒光鍍層測厚|鍍層測厚儀
X熒光鍍層測厚儀及痕量元素分析儀X-Strata980用途：
   X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀用來測試元素的含量或鍍層的厚度，可分析的元素范圍眾原子序數16位（S）至92位（U）;進行元素成分分析時，儀器可同步分析25種不同元素的含量。可同時分析5種鍍層（基材及4種鍍層）/15種元素/含常規元素的修正功能。由ISO3497 ASTM B568和DIN 50987所認證的進行鍍層厚度測試的方法。
 
X熒光鍍層測厚儀及痕量元素分析儀X-Strata980特征：
1、專業設計的RoHS分析界面，檢測結果一目了然。
2、強大的數據傳輸功能（選件）
3、掃描分析及映 射成像功能（選件）
4、程控臺（選 件）
5、可變聚焦距離
6、超大樣品倉
7、PC與機品的一體化設計
8、電制冷PIN探測器，提高測量分辨率
9、行業領先的100瓦X射線管
10、5個初級濾 波器，提升信噪比，改善激發效率。
11、多準直器配置，滿足不同大小PAD位測量。
12、AITi樣品底座，大幅降低背景噪音，提高RoHS元素的檢測下限。
13、方便易用的經驗系數法校準軟件
14、改進的基本參數法模型。
15、提供經驗系數及基本參數的組合分析模型。
16、用戶操作界 面包含9種語言，使用方便