TEM原理

透射電子顯微鏡（縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角 散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。

儀器技術參數

　　- TWIN物鏡系統, 點分辨率 0.27nm

　　- 樣品最大傾角 +/- 70°

　　- Cryo液氮冷凍樣品臺及冷凍轉移設備

　　- 全自動化的數據采集和數據處理系統

送樣要求

粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm.

應用領域

金屬、非金屬及復合材料的觀察分析；

納米粉及納米粉體的形貌觀察和粒度測量統計；

微區成分的定性、定量計算，并對重點區域做元素分布圖；

可對固體材料的表面涂層、鍍層進行結合情況觀察和厚度測量；

機械設備、壓力容器、管道及汽車零件的失效分析。

廣州化聯質檢測試服務項目表

1、XPS（可做刻蝕XPS；UPS價帶譜）
2、TEM（普通形貌、高分辨透射電鏡；可測磁性樣品TEM）
3、SEM（場發射掃描電鏡；可測磁性樣品SEM，可噴金）
4、BET（可測介孔、微孔材料比表面、孔容及孔徑分布等全套分析，也可做水蒸汽、有機氣體等蒸汽吸附）
5、XRD（廣角XRD、小角XRD、掠入射XRD及原位XRD均可）
6、AFM（原子力顯微鏡：塊體、粉末及液體樣品均可做）
7、EPMA（電子探針測試，點、線、面均可測試）
8、TPD（NH3-TPD,CO2-TPD,CO-TPD）
9、TPR（H2-TPR）
10、TG-DSC（低溫、高溫均可測試、有多種氣氛），TG-DTA
11、PPMS（可測變溫電阻率RT曲線等）
12、MPMS（VSM可測磁帶回線MH曲線、磁化率曲線MT曲線）
13、ICP（ICP-MS，ICP-OES，可精確測量多種元素含量，可達ppb級，）
14、ESR（ESR.EPR電子順磁測試，低溫、常溫、高溫ESR均可做）
15、介電常數（變溫介電常數）、熱電性能（塞貝克系數等）、鐵電性能測試
16、CLSM 激光共聚焦掃描顯微鏡
17、3D輪廓儀，臺階儀
18、馬爾文激光粒度儀（干法、濕法）
19、GPC（THF，DMF，氯仿相GPC，水相GPC，高溫GPC）
20、壓汞測試
21、TG-IR
22、GC-MS/LCMS
23、GPC（THF，DMF，CHCL3，水相）
24、核磁
25、質譜

26、元素分析（CHNSO）

27、Ramnm拉曼光譜

28、納米粒度儀

29、TOC測試儀

30、水分檢測儀
還可提供：導熱系數、熱膨脹系數、塞貝克系數、電導、固體紫外（紫外漫反射），紅外(有ATR配件），熒光PL、拉曼（多種激發波長）等測試