原理

XRF 用 X光照射待分析樣品，樣品中的元素內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的

電子返回基態(tài)的時(shí)候，會(huì)放射出特征 X 光；不同的元素會(huì)放射出各自的特征 X 光，具有不同的能量

或波長(zhǎng)特性。

儀器技術(shù)參數(shù)

X射線管靶： 銠靶（Rh）,X射線管壓： 60kv(Max), X射線管壓： 150mA(Max)

檢測(cè)元素范圍：4Be～92U,檢測(cè)濃度范圍：10-6～100%, 最小分析微區(qū)：直徑250μｍ

最大掃描速度：300&ordm/min

送樣要求

固體粉末：均勻干燥，粒度小于70um（過(guò)200目），質(zhì)量不少于100 mg；

塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×10mm×2mm

應(yīng)用領(lǐng)域

電子、磁性材料領(lǐng)域：用來(lái)研究半導(dǎo)體、磁光盤(pán)、磁性材料、電池、線路板、電容囂等；化學(xué)工業(yè)領(lǐng)

域：可用來(lái)研究無(wú)機(jī)、有機(jī)制品、化學(xué)纖維　催化劑、涂料、顏料、藥品　、化妝品、洗滌劑、橡

膠、調(diào)色劑等成分；鋼鐵、有色金屬領(lǐng)域：可用來(lái)研究和測(cè)定各種合金成分；陶瓷、水泥領(lǐng)域：可用

來(lái)測(cè)定水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、巖石等；農(nóng)業(yè)、食品工業(yè)中

可用來(lái)檢測(cè)中土壤、肥料、植物、食品

廣州化聯(lián)質(zhì)檢測(cè)試服務(wù)項(xiàng)目表

1、XPS（可做刻蝕XPS；UPS價(jià)帶譜）
2、TEM（普通形貌、高分辨透射電鏡；可測(cè)磁性樣品TEM）
3、SEM（場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡；可測(cè)磁性樣品SEM，可噴金）
4、BET（可測(cè)介孔、微孔材料比表面、孔容及孔徑分布等全套分析，也可做水蒸汽、有機(jī)氣體等蒸汽吸附）
5、XRD（廣角XRD、小角XRD、掠入射XRD及原位XRD均可）
6、AFM（原子力顯微鏡：塊體、粉末及液體樣品均可做）
7、EPMA（電子探針測(cè)試，點(diǎn)、線、面均可測(cè)試）
8、TPD（NH3-TPD,CO2-TPD,CO-TPD）
9、TPR（H2-TPR）
10、TG-DSC（低溫、高溫均可測(cè)試、有多種氣氛），TG-DTA
11、PPMS（可測(cè)變溫電阻率RT曲線等）
12、MPMS（VSM可測(cè)磁帶回線MH曲線、磁化率曲線MT曲線）
13、ICP（ICP-MS，ICP-OES，可精確測(cè)量多種元素含量，可達(dá)ppb級(jí)，）
14、ESR（ESR.EPR電子順磁測(cè)試，低溫、常溫、高溫ESR均可做）
15、介電常數(shù)（變溫介電常數(shù)）、熱電性能（塞貝克系數(shù)等）、鐵電性能測(cè)試
16、CLSM 激光共聚焦掃描顯微鏡
17、3D輪廓儀，臺(tái)階儀
18、馬爾文激光粒度儀（干法、濕法）
19、GPC（THF，DMF，氯仿相GPC，水相GPC，高溫GPC）
20、壓汞測(cè)試
21、TG-IR
22、GC-MS/LCMS
23、GPC（THF，DMF，CHCL3，水相）
24、核磁
25、質(zhì)譜

26、元素分析（CHNSO）

27、Ramnm拉曼光譜

28、納米粒度儀

29、TOC測(cè)試儀

30、水分檢測(cè)儀
還可提供：導(dǎo)熱系數(shù)、熱膨脹系數(shù)、塞貝克系數(shù)、電導(dǎo)、固體紫外（紫外漫反射），紅外(有ATR配件），熒光PL、拉曼（多種激發(fā)波長(zhǎng)）等測(cè)試