方案優(yōu)勢(shì)

X 熒光光譜法大大節(jié)約時(shí)間，提高工作效率，將檢測(cè)時(shí)間由4 h 縮短至5 min，其重復(fù)性、穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性均能滿足日常檢測(cè)要求。

采用標(biāo)準(zhǔn)

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

方法/原理/步驟

　　樣品處理

　　先將待測(cè)兒童用品中皮革材料制成寬條狀(3cm×6cm)，然后取8至12條上述皮革材料放入自制的皮革專用切割壓片裝置中制樣，待測(cè)。

　　康普頓散射線校正的影響

　　傳統(tǒng)的X射線管照射樣品和探測(cè)器記錄光譜都在一個(gè)平面內(nèi)進(jìn)行，其結(jié)構(gòu)是二維光路或直接激發(fā)的幾何結(jié)構(gòu)，這樣的結(jié)構(gòu)雖然能夠有效提供對(duì)樣品的激發(fā)，記錄的光譜包含了樣品光譜，但是同時(shí)也包含了大量散射的X射線管靶材光譜，導(dǎo)致相對(duì)高的背景，并對(duì)方法的檢出限產(chǎn)生負(fù)干擾。本實(shí)驗(yàn)采用Epsilon 5能量色散X射線熒光光譜儀的光路為三維偏振，此偏振結(jié)構(gòu)可消除散射的X射線管靶材光譜，可以有效的減少光譜背景的干擾。

　　基體效應(yīng)的影響

　　基體效應(yīng)是X射線熒光光譜分析中主要誤差來源，主要分為吸收效應(yīng)和增強(qiáng)效應(yīng)。對(duì)于皮制兒童用品中痕量鉛鎘元素，可采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法和康普頓散射線內(nèi)標(biāo)法校正基體效應(yīng)?；w校正公式如下：

　　式中：Ci為校準(zhǔn)樣品中分析元素i的含量(在未知樣品分析中為基體校正后分析元素i的含量)；Di為分析元素i的校準(zhǔn)曲線的截距；Lim為干擾元素m對(duì)分析元素i的譜線重疊干擾校正系數(shù)；Zm為譜線重疊干擾元素；Ei為分析元素i校準(zhǔn)曲線斜率；Ri為分析元素i的計(jì)數(shù)率(或與內(nèi)標(biāo)的強(qiáng)度比值)；Zj，Zk為共存元素的含量或計(jì)數(shù)率；n為共存元素的數(shù)目；α，β，δ，γ為校正基體效應(yīng)的因子；i為分析元素；j和k為共存元素。譜線重疊干擾校正，使用多個(gè)校準(zhǔn)樣品，由上述方程通過線性回歸求得。

　　樣品厚度的影響

　　選擇不同皮革材料正面與反面的不同厚度進(jìn)行分析測(cè)定。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明：黑色皮革及制品中鉛鎘含量及計(jì)數(shù)率變化在5.24 mm厚度以上時(shí)趨于穩(wěn)定，灰色皮革及制品中鉛鎘含量及計(jì)數(shù)率變化在5.75 mm厚度以上時(shí)達(dá)到平衡，淺褐色皮革及其制品中鉛鎘含量及計(jì)數(shù)率變化在5.50 mm厚度以上時(shí)趨于穩(wěn)定。所以實(shí)驗(yàn)選擇所測(cè)試皮革材料樣品測(cè)量厚度為6.00 mm。

　　標(biāo)準(zhǔn)工作曲線和檢出限

　　按儀器工作條件，對(duì)一系列標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行測(cè)定，以鉛鎘的含量C與其計(jì)數(shù)率R繪制標(biāo)準(zhǔn)工作曲線，線性回歸方程和相關(guān)系數(shù)見表2。

　　選取一款皮制兒童用品，測(cè)試其中鉛鎘含量，按照公式計(jì)算檢出限(Nb是背景測(cè)量計(jì)數(shù))，得到鉛鎘的檢出限分別為0.35μg/g和0.45μg/g。

　　不同分析方法的對(duì)比

　　分別選取兒童用品中不同皮革材料，分別采用X熒光光譜法和微波消解-原子吸收光譜法進(jìn)行分析，并將兩種測(cè)試方法的結(jié)果進(jìn)行對(duì)比，見表3。由表3可見，X熒光光譜法和微波消解-原子吸收光譜法兩種分析方法的分析結(jié)果基本一致，不存在顯著性差異，表明X熒光光譜法分析結(jié)果滿足測(cè)試的需要。

儀器設(shè)備

X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級(jí)X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時(shí)冷卻。