金屬樣品成分分析解決方案--天瑞儀器
http://m.9999966666.com 檢測通 時間:2014-08-14

【摘要】
X熒光光譜儀用于各種金屬材料中各種化學元素的精確成分分析。
方案優勢
天瑞儀器EDX3600B型X熒光光譜儀是當今金屬分析的最佳選擇,同時可以輕松面對未來分析的更高要求,不添加任何硬件設施,即可升級分析功能,方便靈活地隨生產發展的需要增加分析的元素及合金種類。
采用標準
相關標準
方法/原理/步驟
EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。
該技術的主要特征為:
1、利用低能X光激發待測元素,對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率。
2、采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比。
3、采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性。
4、利用解譜技術使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度
5、采用相似自動分類技術使分類更準確,有效地克服基效應對測量帶來的影響。
6、采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
儀器設備
儀器名稱:EDX3600B型X熒光光譜儀
性能特點
專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。
技術指標
測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm—99.99%
同時分析元素:24種元素同時分析
測量鍍層:鍍層厚度測量最薄至0.005微米,可分析5層以上的鍍層
分析精度:0.05%
測量對象狀態:粉末、固體、液體
測量時間:60s—200s
能量分辨率為:(150±5)eV
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
精準的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
關于SGS SGS是全球領先的檢驗、鑒定、測試和認證機構,在世界各地共有85,000多名員
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華南理工大學的亞熱帶建筑研究起步于上個世紀初,是我國高校建筑學科領域“
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http://tsthhq.testrust.com/
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