方案優勢

EDX3000是天瑞公司根據多年的貴金屬檢測技術和經驗，以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測的需要，人性化的設計，最大限度的將各種方面的影響降到了最低，使測試工作更加輕松夠完成同時檢測多種元素，可以滿足絕大多數客戶的需求 。

采用標準

GB/T18043－2008《貴金屬含量的測定 X射線熒光光譜法》

方法/原理/步驟

　　1>據GB/T18043-2008《貴金屬含量的測定X射線熒光光譜法》，X射線熒光光譜可用于貴金屬首飾表層含量的測定及委托檢驗和生產企業內部管理。由于首飾產品的特殊情況，受方法原理的限制，在使用本方法檢測時可能會受以下幾個方面影響：

　　被測樣品與標準物質所含元素組成和含量有較大差異

　　被測樣品表面有鍍層或經化學處理

　　測量時間,樣品的形狀,樣品測量的面積

　　2>如何提高測量精度

　　①做與成品補口一致的標樣。

　　②盡量將樣品熔的均勻，壓片后再測試；對于不能熔的樣品，可以將表面打磨，防止表面太臟，影響測量結果。

　　③規范操作，盡量延長測量時間，虛譜和測試圖譜必須完全吻合，對于不均勻的樣品，可以多測試幾個點，然后取平均值。

儀器設備

　　儀器介紹

　　EDX3000是天瑞公司根據多年的貴金屬檢測技術和經驗，以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬的成分檢測的需要，人性化的設計，最大限度的將各種方面的影響降到了最低，使測試工作更加輕松夠完成同時檢測多種元素，可以滿足絕大多數客戶的需求。

　　性能特點

　　長效穩定X光管

　　半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷。

　　采用天瑞儀器專利產品—信噪比增強器(SNE)，大幅提高光譜儀測量的穩定性和精確度。

　　內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品。

　　數字脈沖處理器，數據處理快速準確

　　放大電路

　　高低壓電源

　　單樣品腔，手動開關機蓋，操作安全、方便

　　無真空腔體

　　三重安全保護模式

　　多變量非線性回歸程序

　　相互獨立的基體效應校正模型。

　　整體鋼架結構、高貴時尚的外型。

　　特別開發專用軟件，操作界面十分友好。

　　無標準樣品時亦可準確測量

　　高清晰圖形即時顯示，無憂測量

　　技術指標

　　儀器型號：EDX 3000

　　測量元素范圍：從鈉(Na)至鈾(U)

　　分析精度：0.05%(96%以上)

　　分析范圍：1ppm-99.9%

　　測量對象：粉末、固體、液體

　　工作電壓：AC 110V/220V(建議配置交流凈化穩壓電源)

　　一次可同時分析24個元素

　　能量分辨率為：(155±5)eV

　　測量時間：60-200秒

　　管壓：5-50kV

　　管流：50μA-1000μA

　　環境溫度：15℃-30℃

　　環境濕度：35%-70%

　　重量：30KG

　　標準配置

　　Si-Pin探測器

　　高壓5kv-50kv

　　光管50uA-1000uA

　　信噪比增強器

　　MCA

　　單樣品腔

　　應用領域

　　金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳等

　　電子電器(RoHS)

　　玩具、陶瓷、

　　冶金、礦山等行業