2026年09月11日 星期五
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能量色散X 射線熒光分析貴金屬中主量次量及有害元素
http://m.9999966666.com 來(lái)源:島津企業(yè)管理(中國(guó))有限公司 時(shí)間:2015-01-05
目前貴金屬無(wú)損檢測(cè)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)為GB/T 18043-2008《首飾貴金屬含量的測(cè)定X射線熒光光譜法》,提出了貴金屬含量使用X射線熒光分析的無(wú)損檢測(cè)方法,比較化學(xué)測(cè)試方法,X射線熒光分析方法的優(yōu)點(diǎn)是:無(wú)損、快速、相對(duì)準(zhǔn)確,環(huán)保、適用性好。GB11887-2008《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》規(guī)定Pb、Hg、Cd、As、Cr6+要求小于0.1%,同時(shí)提到與人體皮膚接觸的首飾有Ni釋放量限制的要求等。本文介紹島津EDX能量色散X射線熒光光譜儀對(duì)貴金屬中主量、次量、有害元素的分析檢測(cè)。
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