日立掃描探針顯微鏡AFM 5100N 簡介
http://m.9999966666.com 來源：天美（中國）科學儀器有限公司 時間：2014-05-23
掃描探針顯微鏡(SPM)具有分辨率高、應用范圍廣、擴展性強等特點，是材料形貌及物性分析的有利工具。日立掃描探針顯微鏡AFM 5100N繼承了傳統掃描探針顯微鏡特點的同時，還具有體積小、易操作、分析模塊多、數據可靠等特點，是小型化通用型SPM的代表。
更多關于 掃描探針顯微鏡 AFM 的技術資料
免責聲明：
1、本網轉載作品目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責。
2、凡來源注明“檢測通”的所有作品，版權均屬檢測通網站，轉載使用本作品請注明來源。否則本網有權追究其相關法律責任。
3、如涉及作品內容、版權和其它問題，請在30個工作日內與本網聯系，我們將在第一時間處理！
