二極管反向擊穿電壓檢測

GB/T4023-1997半導體器件分立器件和集成電路第2部分：整流二極管

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

二極管穩(wěn)壓管工作電壓檢測

GB/T6571-1995半導體器件分立器件第3部分:信號(包括開關(guān))和調(diào)整二極管

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

二極管穩(wěn)壓管動態(tài)電阻檢測

GB/T6571-1995半導體器件分立器件第3部分:信號(包括開關(guān))和調(diào)整二極管

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

雙極型晶體管集電極-基極 截止電流檢測

GB/T4587-1994半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管第Ⅳ章通用測試方法和基準...

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雙極型晶體管集電極-發(fā)射極截止電流檢測

GB/T4587-1994半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管第Ⅳ章通用測試方法和基準...

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

雙極型晶體管發(fā)射極-基極 截止電流檢測

GB/T4587-1994半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管第Ⅳ章通用測試方法和基準...

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雙極型晶體管集電極-發(fā)射極飽和電壓檢測

GB/T4587-1994半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管第Ⅳ章通用測試方法和基準...

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雙極型晶體管基極-發(fā)射極 飽和電壓檢測

GB/T4587-1994半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管第Ⅳ章通用測試方法和基準...

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雙極型晶體管放大倍數(shù)檢測

GB/T4587-1994半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管第Ⅳ章通用測試方法和基準...

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雙極型晶體管發(fā)射極-基極 擊穿電壓檢測

GB/T4587-1994半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管第Ⅳ章通用測試方法和基準...

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

雙極型晶體管集電極-基極 擊穿電壓檢測

GB/T4587-1994半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極型晶體管第Ⅳ章通用測試方法和基準...

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

雙極型晶體管集電極-發(fā)射極擊穿電壓檢測

GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法方法3011

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

場效應晶體管柵-源擊穿電壓檢測

GB/T4586-1994半導體器件分立器件第8部分：場效應晶體管

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

場效應晶體管漏-源通態(tài)電阻檢測

GB/T4586-1994半導體器件分立器件第8部分：場效應晶體管

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

場效應晶體管零柵壓漏極電流檢測

GB/T4586-1994半導體器件分立器件第8部分：場效應晶體管

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

半導體集成電路TTL電路輸入鉗位電壓檢測

SJ/T10735-1996半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

半導體集成電路TTL電路輸出高電平電壓檢測

SJ/T10735-1996半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

半導體集成電路TTL電路輸出低電平電壓檢測

SJ/T10735-1996半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

半導體集成電路TTL電路輸入電流檢測

SJ/T10735-1996半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

半導體集成電路TTL電路輸入高電平電流檢測

SJ/T10735-1996半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理

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