http://www.weipingtest.cn/wpkj_gxyq 我們能做，歡迎咨詢 預(yù)約須知 注意：首次下單用戶下單前請聯(lián)系項(xiàng)目經(jīng)理確認(rèn)需求 1，粉體、液體、塊體均可測試 2，樣品的厚度不超過100nm，如果顆粒稍大一點(diǎn)，可適當(dāng)研磨至100nm以下（可先拍SEM判定顆粒大小）； 3，一般制樣選微珊銅網(wǎng)即可，如果顆粒直徑小于10nm用超薄碳膜制樣；樣品含Cu，需要拍EDS能譜和mapping可選鎳網(wǎng)或者鉬網(wǎng)等；薄膜或塊狀樣品需另行制樣（如離子減薄、包埋切片、FIB等） 4，強(qiáng)磁樣品要求顆粒大小不超過200nm，且不接受自己制樣 5，請務(wù)必仔細(xì)檢查您的樣品，若發(fā)現(xiàn)以弱磁強(qiáng)磁充當(dāng)非磁 或者 以強(qiáng)磁充當(dāng)弱磁非磁，我們將可能無法安排您的實(shí)驗(yàn)，不承擔(dān)以此造成的時(shí)間和樣品損失；而且因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞，需要您承擔(dān)全部賠償責(zé)任！！！ 透射電子顯微鏡TEM 型號：FEI Tecnai F20, 日本電子 JEM2100 or JEM2100F 牛津EDS 測試項(xiàng)目： 可測項(xiàng)目：形貌、能譜點(diǎn)掃、能譜線掃、mapping、HAADF(STEM)、衍射 備注：非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品均可拍攝