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Fluke 1621 接地電阻測(cè)試儀

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移動(dòng)使用的手持式接地測(cè)試儀 Fluke 1621 是一款簡(jiǎn)單易用的接地測(cè)試儀。對(duì)于接地電阻測(cè)試場(chǎng)合，1621 是檢測(cè)可靠接地連接線路的第一道防線。裝置采用多種基本的接地測(cè)試方法，其中包括三極電壓降測(cè)試法及兩極接地電阻測(cè)試法。它的尺寸輕巧方便，擁有結(jié)實(shí)的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏，使之成為大多數(shù)電氣接地工作場(chǎng)合的理想現(xiàn)場(chǎng)接地測(cè)試儀。 Fluke 1621 擁有簡(jiǎn)單的用戶界面和直觀易用的功能，是一款電氣承包商、設(shè)備測(cè)試工程人員和接地專業(yè)人士不可多得的手持式接地測(cè)試工具。常規(guī)技術(shù)指標(biāo) 測(cè)量功能三極接地電阻，兩極交流電阻，干擾電壓基本誤差查閱參考溫度范圍，提供一年保修測(cè)量速率每秒測(cè)量 2 次電池 1 個(gè) 9 伏堿性電池 (LR61) 電池電量狀態(tài) 如果電壓低于 6.5 V，則會(huì)顯示 LO-BAT（低電量）電壓 H/C2 和 E/C1 接頭之間：最大 250 Veff（有效電壓） S/P2 和 E/C1 接頭之間：最大 250 Veff 氣候類別 VDE/VDI 3540 RZ（符合 KWG，每個(gè) DIN 40040，4/87）溫度性能工作： -10 °C 至 +50 °C（+14 °F 至 +122 °F）操作： 0 °C 至 +35 °C（+32 °F 至 +95 °F）存儲(chǔ)： -20 °C 至 +60 °C（+68 °F 至 +140 °F）參考： +23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F) 溫度系數(shù) 量程的 ± 0.1 %，每開(kāi)氏溫度安全 IEC/EN 61010-1，600 V，II 類，2 級(jí)污染尺寸 113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米（(4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸），包括護(hù)套重量 850 克（1.9 磅），包括標(biāo)準(zhǔn)附件，體積約 600 立方厘米注：如果不使用測(cè)試儀，或需要長(zhǎng)期存放，請(qǐng)卸下電池并與測(cè)試儀分開(kāi)存放，以免電池泄露對(duì)測(cè)試儀造成損害。注：測(cè)試儀的 4 個(gè)溫度范圍符合歐洲安全標(biāo)準(zhǔn)要求；通過(guò)使用溫度系數(shù)來(lái)計(jì)算工作環(huán)境溫度下的準(zhǔn)確度，儀器可在整個(gè)溫度范圍內(nèi)正常工作。電氣技術(shù)指標(biāo) 最大偏差： E1 影響因素位置 E1 偏差影響 0% E2 影響因素電壓 E2 偏差影響 0% E3 影響因素溫度 E3 E3 偏差影響 2.3 % E4 影響因素串行干擾電壓 (20 V) E4 偏差影響 0.6 % E5 影響因素探針和輔助探針電阻 E5 偏差影響 10% 測(cè)試電壓 3.7 kV 保護(hù)等級(jí) IP 40；IEC/EN 60529 電磁兼容性輻射：EC/EN 61326，B 類抗擾：IEC/EN 61326，附錄 C RE 電阻測(cè)量測(cè)量方法使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測(cè)量，無(wú)需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測(cè)量，使用探針（三極）或不使用探針（兩極），符合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn) 開(kāi)放電路電壓 23 至 24 V ac 短路電流 > 50 mA ac 測(cè)量頻率 128 Hz 最大許可過(guò)載 250 Veff 測(cè)量時(shí)間 8 秒（從按“開(kāi)始”起計(jì)算的平均值）限制輸入即使測(cè)試儀關(guān)閉，仍會(huì)保留設(shè)定值（如果電池電量充足）自動(dòng)切換分辨率 RH < 7 kΩ 分辨率 0.01 Ω RH < 50 kΩ 分辨率 0.1 Ω RH > 50 kΩ 分辨率 1 Ω 干擾直流和交流電壓顯示最大電壓 30 Veff 共模抑制 > 80 dB，50 Hz 和 60 Hz Ri 680 kΩ 測(cè)量誤差對(duì)于純交流電和直流電信號(hào)，< 10 % 量程 0.15 Ω 至 20 Ω 分辨率 0.01 Ω 顯示范圍 0 至 19.99 Ω 200 Ω 分辨率 0.1 Ω 顯示范圍 20 至 199.9 Ω 2 kΩ 分辨率 1 Ω 顯示范圍 200 至 1999 Ω 基本誤差 ±（測(cè)量值的 6 % + 5 位數(shù)字）操作誤差 IEC 61557 ±（測(cè)量值的 18 % + 5 位數(shù)字）注： [1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于指定值，即會(huì)閃爍。測(cè)量值不在指定的操作誤差范圍內(nèi)

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魏洪軍

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