上海捷滬儀器儀表有限公司

Thick 800能量色散X熒光光譜儀（ROHS檢測儀器）

Thick 800 Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，它不同于EDX600B的下照式和封閉樣品腔的設計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量.應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。 ◆◆技術指標： ◆元素分析范圍：從K到U ◆一次性可同時分析多層鍍層 ◆分析厚度檢測出限最高達0.01um ◆同時可分析多達5層以上鍍層 ◆相互獨立的基體效應校正模型，最先進厚度分析方法 ◆多次測量重復性最高可達0.01um ◆長期工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品） ◆溫度適應范圍：15℃~30℃ ◆輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源） ◆◆配置 ◆開放式樣品腔 ◆二維移動樣品平臺 ◆探測器和X光管上下移動可實現(xiàn)三維移動 ◆雙激光定位裝置 ◆準直器自動切換裝置 ◆玻璃屏蔽罩 ◆正比計數(shù)盒探測器 ◆信號檢測電子電路 ◆高低壓電源 ◆X光管 ◆計算機及噴墨打印機 ◆樣品腔尺寸：517mm×352mm×150mm ◆外型尺寸：648mm×490mm×544mm

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王長勝