北京金三航科技發展有限公司

ChipMaster手持式數字集成電路測試儀

集成電路測試儀循環測試-判定間歇性故障元器件更準確采用無條件或有條件循環測試模式,能夠找到間歇性故障點和由溫度引起的故障,并顯示單個管腳的診斷信息. 簡介: 可測元器件包含TTL系列,CMOS,存儲器,大規模集成電路,接口芯片以及其它多達40管腳的器件,不斷擴充的多達上千種元器件庫,元器件庫可以自行編程擴充升級.集成電路測試儀特點： ·操作簡單方便·內置元器件庫可擴充升級·未知IC型號查找·顯示單個管腳故障診斷信息·元件代換查詢·可選SOIC和PLCC適配座·可選編程軟件與PC實時通訊測試·電池與直流供電·可以選擇不同封裝的測試座功能: Single-對測試座上的IC進行單次測試.Loop-無論結果如何,重復進行測試 P Loop-若測試結果為PASS,重復進行測試F Loop-若測試結果為FAIL,重復進行測試 Search-識別測試座上IC的型號 Diags-進行自我診斷測試 CmLink-進入軟件通訊模式Sw Off-將本儀器關機專業的編程通訊軟件(選配件) 可以擴充元件庫的編程軟件;與PC實時通訊測試軟件;允許用戶根據軟件增加新元器件庫,并產生新的功能測試,可以滿足特殊的應用;軟件采用PremierLink IC編程(PLIP);高水平的測試編程描述語言;最佳的模擬和數字測試程序;可通過RS-232或者USB接口連接電腦;本軟件適合于ChipMaster和LinearMaster;

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劉崢