檢測認證人脈交流通訊錄
- 德國 X-射線熒光分析測厚儀 X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優(yōu)越,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選. 備有5 , Mixx4 , Mixx5等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)。 可測元素范圍： 鈦(Ti) – 鈾(U) 可測量厚度范圍： 原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm 自動測量功能：編程測量，自定測量 修正測量功能：底材修正，已知樣品修正 定性分析功能：光譜表示，光譜比較 定量分析功能：合金成份分析 數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您大大節(jié)省購買標準片的成本.完全超越其他品牌的所謂FP軟件. 鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度. 統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì). 公司名稱：深圳市精誠儀器儀表有限公司 辦公地址：深圳市龍崗區(qū)坂田五和大道北元征科技園2311 聯(lián)系人：張賢群 手機：13424255969 傳真：0755-84528991 郵箱：life226@126.com 網(wǎng)址 ：www.sz-jc.com
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