檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
- 掃描速度的全新詮釋，擁有最高的掃描分辨率，最優(yōu)異的儀器檢測(cè)性能 Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。 為滿足AFM使用者對(duì)提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設(shè)備復(fù)雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時(shí)快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當(dāng)您對(duì)樣品進(jìn)行掃描時(shí)，無(wú)論設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。 高效率 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動(dòng)激光調(diào)節(jié) 和檢測(cè)器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。 自動(dòng)測(cè)量軟件和高速掃描系統(tǒng)完美結(jié)合，大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) 的可信度和可重復(fù)性。 高分辨率 Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時(shí)，延長(zhǎng)了探針的使用壽命。 掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。
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