檢測認證人脈交流通訊錄
- F20-XT經濟型高級膜厚測試儀,膜厚儀，薄膜測厚儀（北京，上海，深圳，成都，西安均有辦事處提供服務） 主要用于測試各種透明半透明的膜厚. 產品簡介： 1 是在F20-NIR的基礎上專為測試厚膜而設計的，波長范圍從1200nm到1450nm，在NIR波長分辨率為 0.5nm； 2 薄膜厚度的測量范圍是：0.2～ 450um（低光學參數薄膜），0.1～160um（Si及其它半導體），精度都好于0.4%。 應用領域 : 1 微機電系統MEMS； 2 絕緣體上硅SOI； 3 倒裝芯片Flip Chips； 4 厚聚合物 。
