介紹: 

法國PhaseView公司是一家以光學設計和計算機技術開發為核心的科技型公司，總部位于法國巴黎的Palaiseau。PhaseWave公司致力于激光、眼科儀器、科研級光學精密儀器的表面和波前測量解決方案，依托其擁有核心競爭力的數字波前像差分析創新技術、一線的圖像處理技術、優秀的光學和機械設計技術。主要產品包括激光光束質量分析儀，3D表面測量儀，光學測試系統，激光光束分析儀，數字顯微鏡等。

深圳維爾克斯光電已取得PhaseView的授權代理，專業供應其BeamWave系列所有型號產品，如需咨詢詳細情況及報價請聯系我們的銷售工程師。

一、BeamWave一體化激光光束分析儀

    PhaseView公司充分運用最新的波前傳感技術，研發出革命性的BeamWave系列光束質量分析儀，全一體化但卻五臟俱全的設計，擺脫了老舊的笨重系統，沒有移動部件和額外的附件 ，無需機械調整 。單一設備即可實現光斑形貌參數、光斑傳播參數、M2因子等全部激光束參數的分析測量。

BeamWave光束質量分析儀的優點：

● 一臺BeamWave測量所有的激光光束參數  ● 高分辨率光強和波前同步測量

● 瞬時單點M2測量，無需繁瑣的移動部件 ● 連續和脈沖光束，脈沖測量自動觸發

● 結構簡單，免維護      ● 價格相對低廉

原理：在CCD內部，激光光束被分成兩束分別前后到達CCD探測器陣面的光束，從而得到分別前后的兩個光束圖像，通過分析比較這兩個圖像的波前能量強度分布和波前相位分布可以分析測量出該光束的所有參數：

1. 光束形貌參數：三維能量分布，光斑位置，發散角，腰斑大小，

2. 光束傳播參數：波前能量分布，波前相位分布，波前曲率半徑，腰斑大小和位置，瑞利長度等等     

3. M2因子

    傳統光束質量分析儀由Shack-Hartmann波前探測器取樣測量波前能量，測量分辨率低，測量M2需要復雜的導軌，測量速度慢等等。相較于傳統的Shack-Hartmann波前探測器，BeamWave具有高速、高分辨率、無需導軌、測量更全面 優勢。

BeamWave型號分為BeamWave 10、BeamWave 500、BeamWave 1000、BeamWave 1500，以及最新款BeamWave FIR其規格參數如下表:

BeamWave FIR（新款）：

二、WaveMap光束監測分析儀

WaveMap是一款可對激光光源或由于光學元器件所引起的波前畸變的光強分布以及波前面型等進行動態分析的智能化波前傳感器，并且性價比較高。WaveMap專用分析軟件可與 XP, Vista 以及 Windows 7 等系統完全兼容。

特點： 
•即插即用型USB波前傳感器  •500 x 500數據點波前圖 
•無小透鏡，動態范圍及分辨率之間不存在相互制衡 
•光相位及光強同步測量  •高分辨率波前分析圖 
•實時柱狀圖Zernike分析  •離軸，像散，離焦及高階像差的實時監測 
•即插即用，實時讀取 •小巧輕便，方便測量

應用 
•高精度光束分析  •采用空間光束調制器進行光束監測和分析 
•復雜光路的波前分析  •低階和高階像差測量 
•激光光束特性  •自適應光學

主要技術參數：

三、WaveGauge高分辨率光學測試儀

WaveGauge高分辨率光學測試儀基于最先進波前分析技術而設計，可提供無與倫比的測量性能。可測量調制傳遞函數、點擴散函數、像差等參數，滿足最新的非球面鏡頭、集成光路和隱形眼鏡最高的測量要求。一般用于實驗室、車間、生產線上對產品的質量進行檢測，判斷出缺陷，供以修整。

其型號分為WaveGauge-T（透射式）和WaveGauge-R（反射式）。

    可測量參數：照準能量及能量圖，任意階透鏡像差，點擴散函數（PSF），調制傳遞函數（MTF），有效焦距（EFL）

WaveGauge的Digital Wavefront Camera(DWC)感光檢測系統

與傳統的Shack-Hartmann sensors傳感器測量效果的對比

專用軟件

該軟件功能繁多，集成度高，可測量波面并繪制、測量透鏡特性等等，并能對數據進行記錄和保存，完全兼容XP、VISTA和Win7系統。

主要技術參數: