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VK-X100/X200形狀測量激光顯微鏡

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出廠價(jià)：
0

主要規(guī)格：

用　　途：
形狀測量

集顯微鏡· SEM · 粗糙度儀的功能于一身 • [全新] 數(shù)碼顯微系統(tǒng)觀察 • 16 bit 激光彩色觀察 • [廣視野] WIDE-Scan • [簡便] AI-Scan • 高分辨率，大景深觀察 • 仿佛彩色 SEM • 無損輪廓和粗糙度測量解決問題激光掃描顯微系統(tǒng)可以解決所有的課題關(guān)于本產(chǎn)品的詳細(xì)內(nèi)容，請使用右上方的圖標(biāo)下載目錄后確認(rèn)。使用激光顯微系統(tǒng)則可全部簡單地實(shí)現(xiàn) 光學(xué)顯微鏡提升倍率后，難以對焦，分辨率不足。 SEM 前處理或樣本尺寸等的準(zhǔn)備煩瑣，僅能以黑白色進(jìn)行觀察。粗糙度儀不能夠?qū)崿F(xiàn)一邊放大觀察，一邊對工件部位實(shí)施非破壞性的凹凸測量。有限的分辨率和放大倍數(shù) 光盤坑 (6000 倍) 景深淺刀尖 (1000 倍) 不支持可追溯性高分辨率，最大放大24000 倍光盤坑（6000 倍）完全聚焦的清晰圖像刀尖（1000 倍）符合溯源性要求使用 VK 系列獲得的測量結(jié)果是高度可靠的測量數(shù)據(jù)，并且符合國家標(biāo)準(zhǔn)溯源性。產(chǎn)品特性解決問題激光掃描顯微系統(tǒng)可以解決所有的課題關(guān)于本產(chǎn)品的詳細(xì)內(nèi)容，請使用右上方的圖標(biāo)下載目錄后確認(rèn)。使用激光顯微系統(tǒng)則可全部簡單地實(shí)現(xiàn) 光學(xué)顯微鏡提升倍率后，難以對焦，分辨率不足。 SEM 前處理或樣本尺寸等的準(zhǔn)備煩瑣，僅能以黑白色進(jìn)行觀察。粗糙度儀不能夠?qū)崿F(xiàn)一邊放大觀察，一邊對工件部位實(shí)施非破壞性的凹凸測量。有限的分辨率和放大倍數(shù) 光盤坑 (6000 倍) 景深淺刀尖 (1000 倍) 不支持可追溯性高分辨率，最大放大24000 倍光盤坑（6000 倍）完全聚焦的清晰圖像刀尖（1000 倍）符合溯源性要求使用 VK 系列獲得的測量結(jié)果是高度可靠的測量數(shù)據(jù)，并且符合國家標(biāo)準(zhǔn)溯源性。

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楊小姐

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