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高速LED檢測系統(tǒng)PCB抄板及克隆技術(shù)解析

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該款高速LED檢測系統(tǒng)是堯順科技PCB抄板及芯片解密中心反向研發(fā)的，為符合測量精確及LED生產(chǎn)高速測試需求，整合了先鋒科技研發(fā)的MegaLED-SGM CCD攝譜儀及高速的MegaLED-3000系列LED電性分析儀, MEGA LED TESTER可用來測試所有LED相關(guān)之光學(xué)與電性參數(shù)。　　在生產(chǎn)過程中快速測量LED參數(shù)對于儀器是項特別的挑戰(zhàn)，因為符合CIE的測量標(biāo)準(zhǔn)時，出光效率非常低；在這同時，確保生產(chǎn)設(shè)備可以有效益生產(chǎn)的運轉(zhuǎn)，高速的測量時間是必要的，多項的LED的光學(xué)與電性參數(shù)測試均涵蓋其中，不同封裝的LED適用范圍也必須由小的SMT設(shè)計以至于高功率的LED。　　Spectral radiant flux ( W/nm ):絕對光譜　　Peak wavelength (λp) : 最高波長　　Dominant wavelength (Hue；λd )：色域波長　　Center wavelength (λc): 中心波長　　Excitation Purity (Chroma；%): 色純度　　Chromaticity Coordinates (x,y @1931)：色坐標(biāo) 　　C.C.T. (correlated color temperature) : 色溫　　C.R.I. (color rendering index ) : 演色指數(shù) 　　該系統(tǒng)確保了主要的測量參數(shù)最高精確度及再現(xiàn)性，如LED主波長及的色坐標(biāo)等，在傳統(tǒng)高速的電性測量速度下，對MegaLED-SGM100測量速度要求加快許多。如圖所示，其清楚的描述客戶確實可以減少電子測量的時間，尤其是搭配LED分選機(jī)高速的測試需求。　　新的可調(diào)式使用者接口組態(tài)與擴(kuò)充的數(shù)組功能合并，以符合所有分BIN的要求。新的裝置特征系依據(jù)統(tǒng)計分析及整體性考慮，也是針對白光晶圓與Lamp LED分選設(shè)備，都搭配了專用探測模塊。　　堯順科技是一家專注于PCB抄板，IC芯片解密，電路板克隆，樣機(jī)制作及批量代工等服務(wù)，幾十年來為無數(shù)的客戶解決了技術(shù)上的困擾，深得好評。詳情登陸http://www.pcbchaoban.net

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