長久以來，X射線吸收精細結構譜(XAFS)只能在各個同步輻射光源上測試。由于光源機時有限，無法滿足眾多科研工作者的測試需求。而近些年，XAFS數據已成為了頂級期刊的“標配"，致使越來越多課題組需要XAFS測試。
RapidXAFS具有如下特點:
最高光通量產品
光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采譜效率數倍于其他產品；獲得和同步輻射一樣的數據質量
優異的穩定性
光源單色光強度穩定性優于0.1%，重復采集能量漂移<50 meV
1%探測極限
高光通量、優異的光路優化和較好的光源穩定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質量EXAFS數據
儀器原理
X射線吸收精細結構(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。
更多訪問：
http://www.rapid-xas.cn/Products-38302736.html