長(zhǎng)久以來，X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜(XAFS)只能在各個(gè)同步輻射光源上測(cè)試。由于光源機(jī)時(shí)有限，無法滿足眾多科研工作者的測(cè)試需求。而近些年，XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級(jí)期刊的“標(biāo)配"，致使越來越多課題組需要XAFS測(cè)試。
RapidXAFS具有如下特點(diǎn):
最高光通量產(chǎn)品
光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品；獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量
優(yōu)異的穩(wěn)定性
光源單色光強(qiáng)度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%，重復(fù)采集能量漂移<50 meV
1%探測(cè)極限
高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和較好的光源穩(wěn)定性確保所測(cè)元素含量>1%時(shí)依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)
儀器原理
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。
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http://www.rapid-xas.cn/Products-38302736.html