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- IC器件測試插座 IC器件測試插座、高頻測試插座 GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距) 適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座 1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值 -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間 短-溫度范圍(典型值) -40至+150℃(典型值) [可接受的器件] FTGB196(賽靈思) 256針FBGA(英特爾) FT256/FTG256(賽靈思) FG256/FGG256(賽靈思) FG320/FGG320(賽靈思) [可接受的器件] FTGB196(賽靈思) 256針FBGA(英特爾) FT256/FTG256(賽靈思) FG256/FGG256(賽靈思) FG320/FGG320(賽靈思) GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距) 適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座 1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值 -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間 短-溫度范圍(典型值) -40至+150℃(典型值) https://www.chem17.com/st433170/erlist_2495307.html http://www.leaderx.com.cn/Products-38193042.html
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