濟南震旭電子科技有限公司

Zeta電位及納米粒度分析儀

　　Zeta電位及納米粒度分析儀　　NANOTRAC WAVE II Zeta電位及納米粒度分析儀采用先進的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速。　　無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠，重現性好。　　Zeta電位及納米粒度分析儀技術參數　　測量原理：動態光散射法　　Zeta電位測量：膜電極設計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率　　分子量測量：水力直徑或德拜曲線　　測量范圍：0.3 nm - 10 ?m 　　檢測角度：180° 　　重復性：±1% 　　Zeta電位范圍：-200mV~+200mV 　　Zeta粒徑范圍：10nm~20μm 　　電泳遷移范圍：0 - 15 (?m/s) / (V/cm) 　　電導率范圍：0 - 10 mS / cm 　　分子量范圍：<300 da="" -="">20 x 106 Da 　　控溫范圍：+4°C ~ +90°C 　　溫度精度：±0.1℃ 　　Zeta測量重復性：±3% 　　Nanotrac Flex：180°動態光背散射　　Nanotrac Wave II：動態光背散射　　https://www.chem17.com/st593869/erlist_2468968.html 　　https://www.chem17.com/st593869/product_37924924.html

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