檢測認證人脈交流通訊錄
- 高分辨原位力學(xué)控制系統(tǒng)采用感應(yīng)微壓頭,在透射電子顯微鏡內(nèi)可直接觀察納米機械測試。通過該系 統(tǒng),不僅可以對納米材料進行機械擠壓的成像,而且同時可以獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。另外,用戶可選擇 push-to-pull模塊可實現(xiàn)樣品拉伸實驗,或者選擇加熱模塊可實現(xiàn)熱場和力場耦合實驗,加熱模塊可選搭 載push-to-pull模塊的程序升溫方式(rt-1000℃,±1k)或者電阻加熱方式(rt-1300℃,±1k),或者 選擇加電模塊(***大電壓±50v,電流范圍:±10pa~±250ma) 獨特優(yōu)勢 : 1.支持多種力學(xué)測試 a.壓縮、拉伸、彎曲、壓痕、劃痕等測試 b.***大拉伸位移達20μm 2.力學(xué)測量 a.載荷范圍:1μn~100mn 3.穩(wěn)定性好 a.科學(xué)設(shè)計,漂移率***小 b.傳感器熱漂移低于0.5nm/ 4.模塊化設(shè)計 a.可擴展加電或加熱模塊 高分辨原位力學(xué)控制系統(tǒng)技術(shù)參數(shù): 溫度范圍 rt 分辨率 電鏡分辨率 行程 xy方向10mm,z方向20mm 載荷量程 >100mn ***小載荷 <0.5μn* 縱向載荷分辨率 ≤100nn* ***大拉伸位移 20μm 位移分辨率 ≤0.1nm* 位置分辨率 1nm* 傳感器熱漂移 ≤0.5nm/s 擴展 可增配加電、加熱模塊 (hr)tem/stem √ (hr)eds/eels √ 傾轉(zhuǎn)角 α=±30° 適用電鏡 fei,jeol,hitachi 適用極靴 all *測試的載荷背景噪音10hz 應(yīng)用領(lǐng)域 : 1.材料力學(xué)研究 :力和位移瞬態(tài)效應(yīng)相關(guān)材料的研究、 位錯研究 、應(yīng)力下的2.晶相轉(zhuǎn)變研究 、納米線、納米球的力學(xué)測試,剪切帶或斷裂發(fā)生 材料力學(xué)測試 :壓痕測試、 拉伸測試(配拉伸臺)、 彎曲測試 、納米壓痕測試 、納米劃痕測試 更多訪問: http://www.chip-nova.com.cn/sonlist-2050785.html https://www.chem17.com/st384871/erlist_2050785.html
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