廈門科王電子有限公司

XRF膜厚檢測(cè)儀

Thick800A 性能特點(diǎn) 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求 φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn) 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù) 技術(shù)指標(biāo) 型號(hào)：Thick 800A 元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm 重量：90kg XRF膜厚檢測(cè)儀http://www.trt-instrument.com/Products-36600921.html https://www.chem17.com/st484160/product_36600921.html

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