STIL供 上海非接觸粗糙度測(cè)量?jī)x器廠家 上海非接觸粗糙度測(cè)量?jī)x器價(jià)格

mc2視覺(jué)檢測(cè)
光譜共聚焦顯微鏡（stil-sa專利）是一種允許設(shè)計(jì)大焦深（幾毫米）光學(xué)系統(tǒng)的技術(shù)。對(duì)位于擴(kuò)展深度范圍內(nèi)的任何樣品，這些系統(tǒng)都能提供清晰、高質(zhì)量和完美聚焦的圖像。該技術(shù)結(jié)合了彩色編碼和傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)。彩色共聚焦顯微鏡由多色光源照射的裂縫、高質(zhì)量彩色透鏡、光束分離器、線性b & w光電探測(cè)器組成。它具備所有光譜共焦顯微鏡的優(yōu)勢(shì)，提供4種光學(xué)頭型號(hào)供選擇：deepview, microview, nanoview, vireview
包含：
一個(gè)mc2/光學(xué)頭（見(jiàn)下面描述）
一個(gè)ccs線照相機(jī) (2k, 4k, 8k)
mc2高亮度多l(xiāng)ed光源箱
光源箱和光學(xué)頭之間的光纖線：長(zhǎng)度為5米
雙重作用：
按照所需放大率，提供樣本表面的高質(zhì)量圖片。
為檢測(cè)和分析一些預(yù)定義特征或文理特征，對(duì)圖片進(jìn)行處理。
優(yōu)勢(shì)：
此技術(shù)結(jié)合線陣相機(jī)，形成了mc2視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，完美地解決了傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)在表面瑕疵檢測(cè)的痛點(diǎn)，具有明顯的優(yōu)勢(shì)：
無(wú)需外接光源照明，光譜共焦傳感器的光源即為檢測(cè)所需的同軸光源；
環(huán)境光線的變化不影響成像效果，適應(yīng)性強(qiáng)；
適應(yīng)所有的物體表面，無(wú)論是漫反射表面，鏡面（高光面）或者透明物體表面； 
高達(dá)80khz的掃描速度，并可實(shí)現(xiàn)非常低的像素尺寸(像素可達(dá)0.2×0.2μm2)；
高可至2.6mm的高景深，在景深范圍內(nèi)的任何一個(gè)位置都是完美聚焦，成像更為清晰且無(wú)需進(jìn)行z軸對(duì)焦。
司逖測(cè)量技術(shù)（上海）有限公司是法國(guó)stil公司在中國(guó)的銷售公司。法國(guó)stil公司為全球各行企業(yè)提供高性能的光譜共焦位移傳感器（chromatic confocal ）已經(jīng)超過(guò)20年。 作為光譜共焦傳感器的發(fā)明者及全球領(lǐng)先者，法國(guó)stil公司基于這一創(chuàng)新的技術(shù)開(kāi)發(fā)了兩個(gè)系列的產(chǎn)品：從0.1μm到100mm測(cè)量行程的點(diǎn)光譜共焦傳感器、從1.8mm到45mm線長(zhǎng)的不同測(cè)量行程的線光譜共焦傳感器。
這些高分辨率的非接觸式傳感器運(yùn)用于各種不同要求的高精密測(cè)量場(chǎng)合。從物體表面細(xì)微結(jié)構(gòu)、形狀及紋理粗糙度的測(cè)量分析，到工業(yè)環(huán)境下的在線質(zhì)量檢測(cè)、過(guò)程控制與逆向工程，及實(shí)驗(yàn)室研究場(chǎng)合的高精度設(shè)備，法國(guó)stil光譜共焦傳感器都成了眾多客戶不可或缺的選擇。