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- 高分辨率波前分析儀供應 昊量供 上海高分辨率波前分析儀 高分辨率波前分析儀生產廠家 高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器 400X300高分辨率、500um高動態(tài)范圍、高性價比、同時檢測波前與M^2波前傳感器！ 關鍵詞：波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量儀、激光光束及波前分析儀、夏克 哈特曼、鏡頭MTF 法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案！PHASICS波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。 法國PHASICS波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發(fā)實力，能為客戶提供的各種自適應光學系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個性化解決方案。可根據(jù)客戶的應用需求，為客戶推薦合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統(tǒng)操作軟件等。 圖1 波前校正前與校正后對比 PHASICS波前探測器依據(jù)其四波橫向剪切干涉專利技術，對哈特曼掩模技術進行了大的升級、改進。PHASICS波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動態(tài)范圍完美結合在了一起。可以滿足不同的客戶的應用需求，可對激光光束進行光強、位相、PSF（點擴散函數(shù)）、MTF（調制傳遞函數(shù)）、OTF（光學傳遞函數(shù)）、波前像差、M^2等進行實時、簡便、快速的測量。 第一部 產品介紹 SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器 PHASICS公司將 SID4的波前測量波長范圍擴展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學元件測量（例如印刷、半導體等等）和表面檢測（半導體晶片檢測等）。 特點： u 高分辨率（250x250） u 通光孔徑大（8.0mmx8.0mm） u 覆蓋紫外光譜 u 靈敏度高（0.5um） u 優(yōu)化信噪比 圖2 SID4-UV波前分析儀 SID4 波前傳感器 可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強度分布，波前像差，激光的M2，澤尼克參數(shù)等進行實時的測量及參數(shù)輸出。 特點： ? 波長范圍：400-1100nm ? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 測量穩(wěn)定性高 ? 對震動不敏感 ? 操作簡單 ? 結構緊湊，體積小 ? 可用筆記本電腦控制 圖3 SID4位相檢測 具體圖片請參見官網 SID4-HR 波前相差儀 可用于檢測各種透鏡，光學系統(tǒng)的檢測，可以對透鏡、光學系統(tǒng)的進行實時的PSF（點擴散函數(shù)）、MTF（調制傳遞函數(shù)）、OTF（光學傳遞函數(shù)）、波前像差測量及參數(shù)輸出。相對于傳統(tǒng)的透鏡檢測設備像：傳函儀、干涉儀，具有操作簡便，測量精度高，參數(shù)輸出方便等優(yōu)點，正在被越來越多的客戶推崇。 特點： u 波長范圍：400-1100nm u 高性能的相機，信噪比高 u 實時測量，立即給出整個物體表面的信息（120000個測量點） u 曝光時間極短,保證動態(tài)物體測量 u 操作簡單 圖4 SID4-HR 具體圖片請參見官網 圖5 SID4-HR傳遞函數(shù)檢測 SID4 NIR 波前分析儀 主要針對1550 nm（1.5um-1.6um）激光的檢測，具有分辨率高高靈敏度、高動態(tài)范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。可用于光學測量，SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSF、MTF和焦距及表面質量的理想工具。 特點： 2 高分辨率（160x120） 2 快速測量 2 性價比高 2 **測量 2 對振動不敏感 圖6 SID4 NIR激光波前檢測 SID4 DWIR 波前儀 具有寬波段測量的特點。可以實時的檢測3-5um和8-14um的波前位相，強度分布等響應的波前信息。可以很好的滿足紅外波段客戶的波前檢測需求。 特點： u 光學測量：SID4 DWIR是測量紅外物體特性（熱成像和**視覺）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結果包括MTF，PSF，像差，表面質量和透鏡焦距。 u 光束測量：（CO2激光器，紅外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數(shù)：像差，M2，光強分布，光束特性等 u 高分辨率（96x72） u 可實現(xiàn)**測量 u 可覆蓋中紅外和遠紅外波段 大數(shù)值孔徑測量，無需額外中轉透鏡 u 快速測量 對振動不敏感 u 可實現(xiàn)離軸測量 u 性價比高 SID4產品型號參數(shù)匯總 型號 第二部 控制軟件 第三部 與傳統(tǒng)哈特曼波前分析儀比較 具體詳情請參見官網 與傳統(tǒng)哈特曼波前傳感器測量結果對比： 具體詳情請參見官網 技術參數(shù)對比： 第四部 應用領域 ? 激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統(tǒng)波前像差檢測 ? 激光光束性能、波前像差、M^2、強度等的檢測 ? 紅外、近紅外探測 ? 平行光管/望遠鏡系統(tǒng)的檢測與裝調 ? 衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領域 ? 球面、非球面光學元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡) ? 虹膜定位像差引導 ? 大口徑高精度光學元器件檢測 ? 激光通信領域 ? 航空航天領域 相關產品 XY系列向列液晶空間光調制器 連續(xù)鏡面 可變形鏡 高靈敏度等離子體分析儀 自適應光學系統(tǒng)（基于MEMS變形鏡） 超高速超低噪聲近紅外相機（自適應探測器）
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