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美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀

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美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀產品特色∶ 1. 全球唯一能提供NIST等級的標準樣品，與美國NREL共同合作。 2. 超大樣品室，H:56cmXW;54cmXD74cm 3. 可直接儲存及建立各種鍍層的Protocol參數，可設定多點分析，以確定制程品質。 4. 針對CIGS各種鍍層材質的濾光片，共5種 5. X-Y-Z三軸自動定位，軸承最長距離為8”X8”X6”，并有自動聚焦弁?/div> 6. 具有表面相對等距自動調整系統 7. 采用自然光，LED白光，無色差 8. 采用最新高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測器 9. 具有防撞安全裝置 10. 具有操作時輻射安全裝置 11. 可將實驗室建立的數據直接復制至線上檢測機臺上。基本規格： X射線發生部電壓最大50kV，多段電壓切換電流 4-1000μA，可做自動調整設定準直器共五個偵測器 Pin or Si 檢測器冷卻方式電子冷卻五種濾波器自動切換電源 AC110~240V, 50/60 Hz 應用領域：鍍層厚度分析 (1)分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。 (2)分析CdTe之各鍍層的厚度及成份同時測量。 (3)三、五族元素各鍍層的成分比例及厚度分析。其它型號：薄膜太陽能檢測設備：應用于薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。 ● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯一能提供NIST標準樣品，快速(60秒內)非破壞檢測。 ● 生產制程專用模塊 SMX-FPV: 適合于設備商turn-key使用，直接OEM與生產制程端整合。 ● 實時監測設備(In-Situ) SMX-ISI: 適用于roll to roll、真空與非真空制程腔體內檢測，可耐高溫至 300°C。 ● 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH:適用于各種制程產在線不同檢測點上，可依現場Layout 做不同方式進樣。（聯系電話 13068486856 0755-84444742） http://www.eastco.hk http://www.eastco-hk.com 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN 生產制程專用模塊 SMX-FPV 實時監測設備(In-Situ) SMX-ISI 產線自動檢測系統(In-Line) SMX-ILH

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劉偉剛

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