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華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態參數測試儀可用于多種封裝形式的IGBT測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊，大功率IGBT、大功率雙極型晶體管，MOS管等器件的V-...
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華科智源HUSTEC-1600A-MT靜態參數測試儀可用于多種封裝形式的IGBT測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊，大功率IGBT、大功率雙極型晶體管，MOS管等器件的V-I...
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華科智源-二極管浪涌電流是指電源線接通瞬間或是在電路出現異常情況下產生的遠大于穩態電流的峰值電流或過載電流。半導體器件在工作時，有時要承受較大的沖擊電流，器...
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產品介紹HUSTEC-DC-2010晶體管直流參數測試系統是由我公司技術團隊結合半導體功率器件測試的多年經驗，以及眾多國內外測試系統產品的熟悉了解后，完全...
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廣州貝拓晶圓測厚系統用于研究材料在高溫狀態下熔體與其相應的基底材料間的接觸角變化規律。高溫接觸角測量儀HTC對于高熔點材料能實現高真空或惰性氣體保護氣氛下的表界...
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廣州貝拓顯微拉曼光譜儀CVRam是整體化設計的785nm的顯微拉曼光譜儀，結合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優點，同時克服了光纖耦合光損失過大的問題，利用高性能小型光譜儀就...
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廣州貝拓手持拉曼光譜儀手持拉曼光譜儀PTRAM785應用于有害物快檢、食品安全、地質地礦等多個領域；集自動校準、檢測、圖譜處理、數據庫檢索和識別于一體，操作簡便快速...
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中圖儀器SuperViewW納米級白光3d表面輪廓檢測儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它在半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納...
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