檢測認證人脈交流通訊錄
形貌觀察、結構分析
這真不是您需要的服務？
-
對應法規：REACH法規
CNAS認可項目：是 - 檢測行業中觀察樣品形貌一般用光學顯微鏡和電子顯微鏡（SEM），其中光學顯微鏡的優勢在于操作簡單、能直觀看到待測位置的形貌、顏色等。在宏觀形貌觀察領域，光學顯微鏡（SEM）有著不可替代的優勢，但在微觀形貌觀察時，光學顯微鏡則由于景深小而造成很多局限。比如樣品觀察面需要非常平整，否則觀察不到或者拍攝出的圖片質量差，此時樣品需要制樣磨平，但這樣就破壞了樣品原本的表面形貌。這種時候就需要電子顯微鏡（SEM）來彌補這一缺陷。 和傳統光學顯微鏡相比，掃描電鏡（SEM）具有以下特點： 1、能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 2、樣品制備過程簡單，不用切成薄片。 3、樣品可以在樣品室中作三維空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。 4、景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡（SEM）的景深較光學顯微鏡大幾百倍。 5、圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，圖像分辨率可達3nm。 6、電子束對樣品的損傷與污染程度較小。 7、在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析。 掃描電子顯微鏡（SEM）是觀察微觀形貌的最有力工具，目前已廣泛應用于材料、生物、環境等領域。
