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北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗(yàn)室
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電氣電子產(chǎn)品沖擊試驗(yàn)檢測
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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》GJB548A-1996方法2002A,《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》GJB548B-2005方法2002.1,《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》GJB360A-1996方法213,《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》GJB360B-2009方法213,《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB128A-1997方法2016,《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 沖擊試驗(yàn)》 GJB150.18-1986試驗(yàn)五：基本設(shè)計(jì)試驗(yàn),《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第18部分 沖擊試驗(yàn)》GJB150.18A-2009,《半導(dǎo)體集成電路機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法》SJ/T10745-1996第2.9條,《微電子器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》MIL-STD-883H：2010 方法2002.5,《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：
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