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電子元器件低氣壓檢測
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CNAS認(rèn)可項(xiàng)目：是 - 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-1996方法1001A,微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005方法1001,電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360A-1996 方法105,電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360B-2009方法105,軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法GJB150.2-1986 低氣壓試驗(yàn),軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法GJB150.2A-2009 低氣壓試驗(yàn),半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法GJB128A-1997方法1001
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