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檢測認證人脈交流通訊錄
X射線光電子能譜/電子光譜化學分析儀(XPS/ESCA)
這真不是您需要的服務？
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對應法規：GB,ASTM
CNAS認可項目：是
- X射線光電子能譜(XPS),也稱為電子光譜化學分析儀(ESCA) ，用來測量定量原子組成和化學成分。 它是取樣范圍從表面到深度大約 50-70?的分析技術。 或者, XPS也可用通過量化材料本體級分子進行特征化薄膜濺射深度剖面。 XPS是一種元素分析技術,提供獨特的被檢測元素的化學狀態信息，如，測量硫元素中硫酸鹽和硫化物的形式。這個過程是用單色X射線照射樣品而產生散射光電子, 這些光電子釋放的能量是取樣范圍內元素的特征。
利用這項技術在不同領域的多種應用中幫助客戶研發以及發展工藝:
? 測量表面成分及化學狀態信息
? 描述清潔過程
? 分析粉末和碎片的主成分
? 有機材料、無機材料、污點、殘留物的表面分析，識別污染源
? 識別和量化表面變化前后聚合物的功能性檢測
? 測量硬盤上的潤滑劑厚度
? 為材料本體水平元素獲取薄膜(導電的和非導電的)深度剖面
? 薄膜氧化物厚度測量（SiO2, Al2O3 等.）或估算兩個樣品氧化層厚度的不同
? 檢測極限通常在~ 0.01 %，最小的分析面積是~10 μm
歡迎來電咨詢。 咨詢電話：189 2932 2016；聯系QQ：254755933;
深圳市美信檢測技術有限公司
曾菲
- 地址：
- 深圳市寶安區石巖鎮松白路石巖湖方正科技園A5棟一樓
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