高溫試驗(yàn)

高溫對(duì)產(chǎn)品有很多影響，如老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴(kuò)散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變形等，通常周圍環(huán)境每上升10℃，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少到四分之一；當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少一半，產(chǎn)品壽命遵循“10℃規(guī)則”，因而高溫試驗(yàn)作為最常用的試驗(yàn)，用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)，同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用。

測(cè)試范圍：＜200℃

測(cè)試參數(shù)：小于1m³ 16m³

低溫試驗(yàn)

低溫對(duì)產(chǎn)品有很多影響，如脆化、結(jié)冰、粘度增大、固化、機(jī)械強(qiáng)度的降低及物理性收縮等， 低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)等。

測(cè)試范圍：0℃~ -70℃

測(cè)試參數(shù)：小于1m³ 1m³ 18.9m³

測(cè)試范圍：-40℃~ -70℃

測(cè)試參數(shù)：無要求