深圳電子產(chǎn)品做老化壽命測(cè)試哪里可以做？

老化壽命測(cè)試是針對(duì)電子產(chǎn)品仿真出一種或高溫、或惡劣環(huán)境、或重復(fù)的測(cè)試，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要測(cè)試、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，通過(guò)此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問(wèn)題、解決問(wèn)題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)。

涉及下列項(xiàng)目：
平均故障間隔時(shí)間（MTBF） GB/T 5080.7 GB/T 13426 SJ/T 11325
線材搖擺測(cè)試 EIA-364-41
插拔力測(cè)試 EIA-364-13
耐久性測(cè)試 EIA-364-09

優(yōu)耐實(shí)驗(yàn)室提供多種檢測(cè)認(rèn)證，根據(jù)不同類型的產(chǎn)品，提供認(rèn)證服務(wù)。