可靠性試驗(yàn)_電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)?

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　　隨著電子產(chǎn)品不斷的在研發(fā)、制造、種類、功能等各個(gè)方面的越來越高，對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量要求、元件數(shù)量以及結(jié)構(gòu)性要求也越來越高。那么，為了檢測(cè)電子產(chǎn)品是否與其運(yùn)行環(huán)境相適應(yīng)或是否滿足其可靠性指標(biāo)，就需要利用對(duì)其進(jìn)行可靠性試驗(yàn)的方法來進(jìn)行測(cè)量。與此同時(shí)還可通過可靠性測(cè)驗(yàn)來發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)上或制作工藝中存在的不足，進(jìn)而優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)工藝，提高產(chǎn)品綜合性能。

　　電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)?zāi)康?/p>

　　可靠性試驗(yàn)的目的是驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性是否達(dá)到規(guī)定的要求，用來鑒定產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)結(jié)果和設(shè)計(jì)工藝變更之后是否符合可靠性要求，根據(jù)產(chǎn)品試驗(yàn)?zāi)康牟煌煽啃栽囼?yàn)的類型可分為鑒定試驗(yàn)、驗(yàn)收試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)，試驗(yàn)的結(jié)果是否達(dá)到了規(guī)定的最低可接收的可靠性要求。最大限度的暴露出產(chǎn)品存在的缺陷不足，從而對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)改進(jìn)。盡可能的對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行保障。研究預(yù)防故障發(fā)生措施及產(chǎn)品科技創(chuàng)新的效率分布。對(duì)選用電子元件進(jìn)行評(píng)價(jià)。

　　為評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)，廣義說，包括各種環(huán)境條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。按試驗(yàn)項(xiàng)目可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)和特殊試驗(yàn);按試驗(yàn)?zāi)康目煞譃楹Y選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn);按試驗(yàn)性質(zhì)可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。

　　可靠性試驗(yàn)有多種分類方法.

　　1. 如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn);

　　2. 以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn);

　　3. 若按試驗(yàn)?zāi)康膩韯澐郑瑒t可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn);

　　4. 若按試驗(yàn)性質(zhì)來劃分，也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)兩大類。

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