光伏玻璃PID抗衰減測試報告IEC/TS 62804-1檢測機(jī)構(gòu)
光伏(PV)模塊.檢測電位誘導(dǎo)衰減的試驗方法.第1部分:晶體硅(IEC/TS 62804-1-2015)

Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)

我司（安博檢測）測試項目：LID光致衰減，PID(抗電勢誘導(dǎo)衰減)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

1、在組件的PID衰減過程中，溫度因素起到加速老化衰減的作用非常明顯；

 2、在組件的PID衰減過程中，水蒸氣分壓（濕度）作為組件PID衰減的主要“誘因”因素，在組件的PID衰減過程中起到關(guān)鍵性作用；

3、在組件的PID測試過程中，導(dǎo)電鋁箔能夠很好的保持組件玻璃表面和內(nèi)部電路之間的電場均勻，平衡個電池片之間的PID衰減作用非常明顯；

4、組件PID測試以60℃、85%RH、-1000V電壓、組件表面貼導(dǎo)電鋁箔為測試條件（環(huán)境），測試時間為96小時比較合適。按照IE61215標(biāo)準(zhǔn)相應(yīng)規(guī)定來判斷組件是否合格。

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