TEM樣品制備

       在材料科學的研究中，TEM樣品制備在電子顯微學研究工作中，起著至關重要作用，是豐常精細的技術工作。要想得到好的TEM結果，首先要制備出好的薄膜樣品。

       TEM樣品制備在電子顯微學研究中起著非常重要的作用，傳統的常規制備方法有很多，例如：化學減薄，電牌雙噴，解理、超薄切片.粉碎研磨、FIB聚焦高子束，機械減薄、離子減薄，這些方法都能制備出比較好的薄膜樣品，

TEM樣品類型∶

• 塊狀：用于普通微結構研究；
• 平面-用于薄膜和表面附近微結構研究；
• 橫截面樣品：均勻薄膜和界面的微結構研究；
• 小塊物體∶ 粉末，纖維，納米量級的材料。

我們的TEM樣品制備能力：

• 非定點TEM樣品制備(截面, Si)；
• 定點TEM樣品制備(截面, Si)；
• 非定點TEM樣品制備(平面, Si)；
• 定點TEM樣品制備(平面, Si)；
• 非定點TEM樣品制備(截面, Non-Si)；
• 定點TEM樣品制備(截面, Non-Si)；
• 非定點TEM樣品制備(平面, Non-Si)；
• 定點TEM樣品制備(平面, Non-Si)