場發(fā)射掃描電鏡(Hitachi S4800)場發(fā)射透射電鏡(FEI Tecnai G2 F30)

　　微觀結構分析包括結構的形貌形態(tài)、以及形成這些結構或形貌的元素組成。可以運用掃描電鏡或透射電鏡來實現(xiàn)這些目標。在透射電鏡下，運用電子衍射、能譜分析等手段可以獲得微觀區(qū)域物相的結構。

　　對于某些材料的端口分析可以了解材料的斷裂性質，以及微觀斷裂機制，用于失效分析。

　　具體的服務項目有：表面形貌、元素成分分析(能譜EDS)、微米長度測量、納米長度測量、鍍層涂層厚度分析、組織結構分析、失效分析。