技術指標:場發射電子槍點分辨率:0.24nm 線分辨率:0.14nm 放大倍數:50x-1500kx 樣品傾斜角度:±30° 帶CCD, TV相機
儀器用途:該設備用于測量和研究材料的晶體結構及超高分辨率圖像的觀察,及得到納米尺度的結構信息,元素分布信息
收費標準:400元/小時
機組負責人:李艷青 13962526596 yqli@suda.edu.cn
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