檢測(cè)認(rèn)證人脈交流通訊錄
技術(shù)指標(biāo):比表面測(cè)量范圍為氮?dú)馕?.01m2/g 至無上限,氪氣吸附0.0001m2/g 至無上限 ;孔徑分析范圍:3.5 埃~5000 埃;重復(fù)性優(yōu)于1%;三站同時(shí)測(cè)量。
儀器用途:用于材料的比表面分析,主要包括全吸附、脫附曲線、BET及Langmuir比表面、平均孔尺寸和單點(diǎn)總孔體積、BJH中孔、大孔體積、面積分布、總孔體積、de Boer t-plot數(shù)據(jù)處理微孔體積和表面積,厚度公式、αs-plot和f-ratio法、MP法
收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn):省標(biāo)
機(jī)組負(fù)責(zé)人:陳小芳 0517-83591165


