檢測認證人脈交流通訊錄
技術指標:加速電壓:0.5~30kV;分辨率:1.2 nm(30kV)、3.0 nm(1kV);放大倍數:10×―500,000×;成像信號:二次電子、背散射電子。
儀器用途:主要用于對固體、粉體材料表面形貌、微觀組織、斷裂斷口特征等的觀察分析,同時配有英國Oxford公司Inca Energy-350型X射線能譜儀、丹麥HKL公司Channel-5型電子背散射衍射(EBSD)分析系統,可在觀察微觀形貌的同時,進行微區成分的點、線、面分布分析;微區物相晶體結構、晶體取向、取向成像、取向分布等的顯微分析。
收費標準:電話聯系商議
機組負責人:陳康敏、潘勵 0511-88792716


