檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
技術(shù)指標(biāo):分辨率: 3.0nm@30KV(SE and W)2.0nm@30KV(SE with Lab6 option) 4.5nm@30KV(VP with BSD);加速電壓: 0.2―30KV;放大倍數(shù): 7―1000000x;視野范圍: 6mm;X-射線參數(shù): 8.5mmWD,35度接收角;壓力范圍: 10―400Pa;工作室: 310mm(φ)×220mm(h);5軸試樣載物臺: X=80mm Y=100mm Z=35mm T=0-90°R=360°;最大試樣高度: 100mm;最大試樣直徑: 200mm;系統(tǒng)控制: 基于Windows XP的SmartSEM。
儀器用途:高真空條件下對金屬、無機(jī)、聚合物、生物生命組織等多種材料、各種微結(jié)構(gòu)進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征和功能器件物理性能測試,以及具有納米高空間分辨條件下進(jìn)行電子束加工、改性等。
收費標(biāo)準(zhǔn):電話聯(lián)系商議
機(jī)組負(fù)責(zé)人:李保家 13913443010


