技術指標:聯合了非破壞性掃描、簡便的樣品制備和固定以及光學成像于一體,能夠實現與電子顯微鏡相比擬的橫向納米級分辨率和縱向A級分辨率,其放大倍數比標準光學顯微鏡大兩個數量級,但不象電子顯微鏡需要復雜的樣品制備過程。
儀器用途:各種固體材料表面形貌表征與檢測,以及具有納米高空間分辨條件下的局域增強加工、改性等。
收費標準:電話聯系商議
機組負責人:李保家 13913443010
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