技術(shù)指標：掃描器：橫向(X-Y)范圍90*90μm；豎直(Z)范圍15μm (標配型)。 樣品大小：直徑≤100mm, 厚度≤20mm。

儀器用途：操作模式包括：輕敲模式(Tapping Mode AFM)-擁有Q-control控制技術(shù)；接觸模式(Contact Mode AFM)；定量相位成像模式(Phase Imaging)；橫向力模式(LFM)；磁場力顯微技術(shù)(MFM)； 靜電力顯微技術(shù)(EFM)；動態(tài)和靜態(tài)力曲線測試（Force-Distance）；力陣列測量(Force Volume Measurement)； 納米壓痕/劃痕；超高分辨率導電顯微技術(shù)(ORCA)；壓電響應(yīng)模式(PFM)；高次諧波成像模式（Dual AC Mode）；分子力力譜模式(Molecular Force Spectroscopy)；雙頻共振追蹤壓電模式（Dual frequency resonance tracking） 用途: 主要用于材料的形貌、電學、磁學和機械性能的觀測和研究；利用納米刻蝕和操縱功能還能進行一些納米結(jié)構(gòu)的制備。

收費標準：自備探針：80元/樣，不備探針：150元/樣。

機組負責人：姜燕  15162999562  sys417@ujs.edu.cn