檢測認證人脈交流通訊錄
技術指標:垂直測量范圍 0.1nm-1nm 垂直分辨率 ?1ÅRa 重現性 0.01nm 最大垂直掃描速度 7.2um/sec(288uin./sec) 橫向分辨率 0.08-13.1um 可視區域 8.24mm-0.05mm 反射率范圍 1%-100% 符合CE標準
儀器用途:測量微納米結構表面形貌。對表面進行快速、重復性高、高分辨率的三維測量,給MEMS、厚膜、光學元件、陶瓷和先進材料的研發和生產提供一個精確的計量方案。
收費標準:面議
機組負責人:華希俊 0511-88780824


