技術指標：1.按照ANSI C63.4-2003的步驟和規定，在直徑3米的圓柱體靜區內所有位置從30MHz至1GHz進行歸一化場衰減測試，按照10米法測量的歸一化衰減(NSA)值與理論值偏差優于±4dB；1GHz至18GHz頻率范圍內使用傳輸損耗（TL）測試方法進行測試，僅在5GHz、10GHz和18GHz三點進行測試,歸一化衰減(NSA)值與理論值偏差優于±4dB。同時滿足CISPR16、EN50147-2、CISPR22-1997、GB9254-1998、VCCI V-3/99.05標準對場衰減的要求。 2.按照IEC61000-4-3步驟和規定，符合EN61000-4-3:1996和GB/T 17626.3-1998的要求，在30MHz至1GHz進行場均勻度測試，標準場為轉臺之上0.8米-2.3米范圍內1.5米x1.5米的垂直平面，按照3米測試距離要求16個測試點的75%即12點場均勻性在0-6dB之間；1GHz至18GHz的測試僅在5GHz、10 GHz和18GHz三點以低于3v/m進行測試。 3. 按照CISPR22 Claas B（GB9254-1998）的規定，在30MHz-1GHz的頻率范圍內，無EUT的情況下，測得的環境電平值，至少低于規定的B級限值10dB。

儀器用途：可對通訊設備、電子、電氣設備進行電磁兼容（EMC）測試，即電磁干擾（EMI）和電磁敏感度（EMS）測試。適用頻率30MHz-18GHz可延至40GHz。

收費標準：1000

機組負責人：畢言順  15251750971  chris.bi@siemic.com