檢測認證人脈交流通訊錄
技術指標:主機:X射線發生器 3KW 測角儀:最小步進 0.0001度 重復性 0.0001度
儀器用途:應用于各種材料結構分析,如金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。可分析的材料狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品。對無機材料以及部分高分子多晶體材料進行定性、定量分析,對固體材料進行擇優取向分析以及殘余應力分析,測定未知晶體結構。
收費標準:①定性物相分析(少于30min) 100元/樣 ②慢掃(大于60分鐘) 80元/小時/樣 ③晶粒大小測定(計算) 150元/樣
機組負責人:沈磊 051252251849;18913642652 leishen@cslg.edu.cn


