技術(shù)指標(biāo)：分辨率：0.8 nm @ 15kV1.6 nm @ 1kV 加速電壓：0.02-30kV 放大倍數(shù)：12-1,000,000X 探針電流：4 pA～20 nA 穩(wěn)定性: 優(yōu)于0.2%/h 工作室：330mm(φ）270mm(h) 5軸載物臺：X=130mm Y=130mm Z=50mm T=-3°～+70°R=360° 連續(xù)可調(diào)最大試樣高度：145mm最大試樣直徑：250mm 系統(tǒng)控制：基于Windows XP 的SmartSEM

儀器用途：掃描電鏡是在各種環(huán)境下非破壞性地分析測定各種物質(zhì)的形態(tài)及成份的現(xiàn)代分析測試儀器。可對各種物質(zhì)進(jìn)行定性定量分析,元素組成及分布分析，可選用不同的樣品室壓力對樣品進(jìn)行形貌觀測的成份分析，可以對金屬材料、無機材料、有機材料，納米材料進(jìn)行研究及表面狀態(tài)分析等諸多功能，是一種使用廣泛的多功能現(xiàn)代分析測試儀器。其涉及的領(lǐng)域涵蓋材料、電子、 生物、機械、 冶金 、化工、化學(xué)、 食品、醫(yī)藥、建筑等諸多學(xué)科，成為教學(xué),科研必不可少的現(xiàn)代分析測試儀器。

收費標(biāo)準(zhǔn)：SEM:200元/樣;SEM+EDS:300/樣(其中點分析,線分析,面分析不重復(fù)收費)

機組負(fù)責(zé)人：王文昌  0519-86330223-809  king717@139.com